中國電子顯微鏡學(xué)會、儀器信息網(wǎng)聯(lián)合報(bào)道  2024年10月18日，2024年全國電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會在東莞市會展國際大酒店龍泉廳盛大開幕。大會由電鏡學(xué)會電子顯微學(xué)報(bào)編輯部主辦，南方科技大學(xué)、松山湖材料實(shí)驗(yàn)室、大灣區(qū)顯微科學(xué)與技術(shù)研究中心共同承辦，儀器信息網(wǎng)作為獨(dú)家合作媒體參會報(bào)道。大會為期三天，吸引來自高校院所、企事業(yè)單位、儀器技術(shù)企業(yè)等電子顯微學(xué)領(lǐng)域?qū)＜覍W(xué)者近2000人出席參會。 

在新質(zhì)生產(chǎn)力創(chuàng)新起主導(dǎo)作用的今天，顯微學(xué)人以振興電子顯微學(xué)事業(yè)發(fā)展為己任，瞄準(zhǔn)國家重大需求和國際前沿科學(xué)問題，不斷為我國卡脖子難題的攻克貢獻(xiàn)中國電子顯微學(xué)者不可或缺的重要力量。2024年是中華人?共和國成立75 周年慶典，本屆年會大會為慶賀專場，顯微學(xué)人以自己的學(xué)識與奉獻(xiàn)為科技強(qiáng)國而勇于擔(dān)當(dāng)。本屆年會的主題是：顯微情長強(qiáng)國志，科技寰宇振中華。 

大會開幕式由松山湖實(shí)驗(yàn)室馬秀良教授主持，大會名譽(yù)主席、清華大學(xué)隋森芳院士，大會承辦單位南方科技大學(xué)副校長、中國電子顯微鏡學(xué)會理事長韓曉東教授分別致辭。 

開幕式后進(jìn)入大會報(bào)告環(huán)節(jié)，以下為大會報(bào)告上半場五位大會報(bào)告內(nèi)容摘要，以饗讀者。 

中國工程院院士 北京科技大學(xué)教授 謝建新 

報(bào)告題目：《新材料智能技術(shù)》 

新材料是經(jīng)濟(jì)社會發(fā)展的物質(zhì)基礎(chǔ)，是高新技術(shù)和戰(zhàn)略新興產(chǎn)業(yè)發(fā)展的先導(dǎo)。新世紀(jì)以來，先進(jìn)各國更加重視新材料的發(fā)展，提出了針對未來競爭的加速新材料發(fā)展的相關(guān)戰(zhàn)略與研究計(jì)劃。其中，美國“材料基因組計(jì)劃”的提出和實(shí)施，使材料數(shù)據(jù)受到前所未有的重視，推動(dòng)了大數(shù)據(jù)在新材料研發(fā)和生產(chǎn)中的應(yīng)用，催生了新材料智能技術(shù)。 

隨后，謝建新院士從材料智能設(shè)計(jì)、智能實(shí)驗(yàn)及智能制造3個(gè)方面為參會者詳細(xì)介紹了新材料的智能技術(shù)。材料智能設(shè)計(jì)包括大規(guī)模計(jì)算、機(jī)器學(xué)習(xí)、大規(guī)模計(jì)算+機(jī)器學(xué)習(xí)3類。并通過高端銅合金定制設(shè)計(jì)和新一代高強(qiáng)鋁合金定制設(shè)計(jì)詳細(xì)闡述了機(jī)器學(xué)習(xí)逆向設(shè)計(jì)的步驟。 

關(guān)于材料智能實(shí)驗(yàn)，包括自動(dòng)實(shí)驗(yàn)、可組裝實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)、自主實(shí)驗(yàn)等。謝建新教授展望，未來智能實(shí)驗(yàn)將深度融合信息和互聯(lián)網(wǎng)+技術(shù)、材料計(jì)算-實(shí)驗(yàn)-數(shù)據(jù)技術(shù)，實(shí)現(xiàn)自主實(shí)驗(yàn)的模塊化協(xié)同調(diào)度和統(tǒng)籌，人機(jī)知識和信息的實(shí)時(shí)交互和選代。此外，還將構(gòu)建基于實(shí)時(shí)模擬和數(shù)字模型的“數(shù)字孿生體”，與實(shí)驗(yàn)實(shí)時(shí)雙向信息交互，促進(jìn)計(jì)算-實(shí)驗(yàn)-數(shù)據(jù)的融合，實(shí)現(xiàn)材料多尺度、全流程一體設(shè)計(jì)和綜合優(yōu)化。

 針對新材料制備與生產(chǎn)制造中面臨的復(fù)雜性和不確定性兩大挑戰(zhàn)，這些問題往往導(dǎo)致材料性能波動(dòng)大、質(zhì)量不穩(wěn)定。為此，謝教授強(qiáng)調(diào)，將人工智能引入材料制造領(lǐng)域，是應(yīng)對這些挑戰(zhàn)、提升材料性能穩(wěn)定性與質(zhì)量一致性的關(guān)鍵路徑。 

中國科學(xué)院廣州生物醫(yī)藥與健康研究院 研究員 孫飛 

報(bào)告題目：《生物電鏡技術(shù)前沿和創(chuàng)新》 

電子顯微成像技術(shù)的發(fā)展極大促進(jìn)了生命科學(xué)研究的進(jìn)步，近20年發(fā)展起來的冷凍電鏡技術(shù)和體電鏡技術(shù)在生物大分子復(fù)合體的精細(xì)結(jié)構(gòu)和細(xì)胞組織的精細(xì)三維構(gòu)造研究方面發(fā)展了重要作用。在過去的十多年里，孫飛研究員及其團(tuán)隊(duì)一直致力于生物電鏡領(lǐng)域的創(chuàng)新，圍繞冷凍電鏡和體電子前沿技術(shù)在樣品制備、數(shù)據(jù)采集處理、裝備開發(fā)等方面的探索。并且孫飛研究員團(tuán)隊(duì)在電鏡關(guān)鍵技術(shù)裝備研發(fā)方面也取得了重要進(jìn)展，從30kV開始，到突破關(guān)鍵部件（120kV）再到向整機(jī)研制進(jìn)發(fā)，成功突破了高壓場發(fā)射電子槍技術(shù)、高穩(wěn)定高壓電源技術(shù)、100kV電磁透鏡組系統(tǒng)等關(guān)鍵核心技術(shù)。 

賽默飛世爾科技（中國）有限公司 高端透射電鏡全球首席科學(xué)家 Eric Van Cappellen 

報(bào)告題目：《Iliad,the new L-shapped (S)TEM column from Thermo Fisher Scientific》 

在報(bào)告中，Eric Van Cappellen重點(diǎn)推介了賽默飛于本次大會發(fā)布的電鏡新品——Iliad。這款電鏡搭載了尖端的電子能量損失譜儀（EELS）與能量過濾系統(tǒng)，顯著提升了產(chǎn)品性能。其先進(jìn)的EELS與EFTEM數(shù)據(jù)收集技術(shù)、增強(qiáng)的束流穩(wěn)定性以及加速的數(shù)據(jù)采集速度，共同構(gòu)成了Iliad的核心競爭力。Iliad配備的超快靜電束閘能夠?qū)崿F(xiàn)對電子束量的精細(xì)調(diào)控，使之成為表征電子束敏感樣品的理想工具。

Iliad還創(chuàng)新性地采用了多模式方法，巧妙融合EDX、EELS及EFTEM功能，能夠同步捕獲多元化的信號。數(shù)據(jù)通過高效的Velox軟件即時(shí)獲取，并支持實(shí)時(shí)查看與處理，不僅實(shí)現(xiàn)了多模式數(shù)據(jù)采集的無縫銜接，更賦予了用戶即時(shí)反饋的能力，極大地豐富了透射電鏡的使用體驗(yàn)。 

泰思肯貿(mào)易（上海）有限公司 Product Marketing Director Petr Klimek 

報(bào)告題目：《Introucing AMBER X 2 and AMBER 2:New Generation FIB-SEMs for Speed,Utility,Precision》 

在報(bào)告中，Petr Klimek介紹了泰思肯公司的新品——AMBER X 2與AMBER 2。其中，AMBER X 2憑借其尖端的等離子體FIB-SEM技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了前所未有的速度、精度與多功能性，樹立了該領(lǐng)域的新標(biāo)準(zhǔn)。而AMBER 2則通過優(yōu)化工作流程，最大限度地減少了停機(jī)時(shí)間并提升了操作效率，尤其擅長于執(zhí)行多樣化的納米原型設(shè)計(jì)任務(wù)。此外，AMBER 2還展現(xiàn)了其超高分辨率（UHR）成像能力的卓越洞察力。 

北京大學(xué)博雅特聘、長聘教授/新基石研究員 陳良怡 

報(bào)告題目：《定量活性細(xì)胞超分辨成像：十年歷程》 

超分辨率顯微鏡面臨光毒性強(qiáng)、成像速度慢及操作繁瑣等局限性，陳良怡團(tuán)隊(duì)歷經(jīng)十多年的深入研究，發(fā)展通用的、研究者可以信賴的活細(xì)胞超分辨率成像方法并推進(jìn)其時(shí)空分辨率極限。1）海森結(jié)構(gòu)光超分辨顯微鏡：去除偽影，降低超分辨成像所需要的光通量；2）熒光-無標(biāo)記雙模態(tài)顯微鏡：同時(shí)記錄細(xì)跑三維內(nèi)細(xì)胞器互作網(wǎng)絡(luò)以及關(guān)心的分子；3）稀疏解卷積超分辨算法：通用數(shù)學(xué)超分辨率方法，提高光子數(shù)-分辨率轉(zhuǎn)化效率；4）物理模型驅(qū)動(dòng)的背景去除算法：通用，無參數(shù)高效，高保真，定量；5）基于傅里葉頻率穩(wěn)定性的超分辨率成像質(zhì)量評估方法：通用，無需先驗(yàn)。 

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